文章详情

涂层测厚仪影响测量精度的详细原因分析

日期：2024-07-26 07:54
浏览次数：1262
摘要：
涂层测厚仪影响测量精度的详细原因分析
1) 基体金属的导磁率和电导率对测量有影响； 可直接用未涂(镀)的被测零件或去除涂(镀)层的被测零件作为基板进行校准，可消除影响;
2) 任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,只有超过这个厚度,测量值才不会受到基体金属厚度的影响；*好可直接用小于临界厚度的被测零件作为基板进行校准，可消除影响;
3) 测厚仪对工件测定存在边缘效应,即对工件边缘或内转角处的测量是不可靠的；若想得到正确厚度值，可直接在被测位子进行校准，可减少影响;
4) 试样的曲率对测量有影响,这种影响将随曲率半径的减小明显地增大; 可直接在被测位子进行校准，可减少影响;
5) 基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量的精度,粗糙度增大,影响增大;
6) 测厚仪对妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感.因此测量前应**测头和覆盖层表面的污物;测量时应使测头与测试表面保持恒压垂直接触。