产品详情
  • 产品名称:ZPI2195破坏式膜厚仪

  • 产品型号:ZPI2195
  • 产品厂商:瑞士杰恩尔
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简单介绍:
ZPI2195破坏式膜厚仪是一款使用楔形切割法对单层或多层涂层干膜厚度进行检测的仪器,不受底材材料影响,可适用**材料涂层厚度测试. ZPI2195破坏式膜厚仪
详情介绍:
 ZPI2195破坏式膜厚仪是一款使用楔形切割法对单层或多层涂层干膜厚度进行检测的仪器,不受底材材料影响,可适用**材料涂层厚度测试.ZPI2195根据选择刀头不同,可检测涂层厚度也有差异,坚固的刀头固定座及底部金属轮可保证刀头的准确定位.

     ZPI2195破坏式膜厚仪带有一个50倍的显微镜,方便辅助评估.完成不同的测试应用。

ZPI2195破坏式膜厚仪

 

ZPI2195破坏式膜厚仪技术参数

刀头

量程

计算方式

*小读值

5.7°

2-250µm

除以10

2µm

14°

5-500µm

除以4

5µm

26.6°

10-1000µm

除以2

10µm

45°

20-2000µm

实际值

20µm

精度

± 10%

显微镜镜

50 , LED 照明可调焦距

显微镜刻度

20 µm

电源

9V

尺寸

110*86*26 mm

重量

380g

标准

ASTM D 4138, ISO 2808, DIN 50986

 

ZPI2195破坏式膜厚仪有四种不同刀头,5.7°、14°26.6°三种刀头实际值需要将读取值与计算方式要求的数字相除。

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